参考资料

剪切干涉仪是一种用于评估光学系统像差的精密仪器。它通过以下机制来评估光学系统的像差：

1. 波前剪切：剪切干涉仪通过将光束分割成两个或多个部分，这些部分代表原始波前的微小位移版本。这种剪切操作可以是空间上的，也可以是角度上的。

2. 干涉测量：剪切后的波前会在一个共同的区域重新组合，形成干涉图样。干涉图样的形成基于光波的相干性，即只有当两束光波的相位差恒定时，才会产生稳定的干涉条纹。

3. 波前重建：通过分析干涉图样，可以重建原始波前的相位分布。这一步骤通常涉及到复杂的数学算法，如傅里叶变换，以从干涉图样中提取波前信息。

4. 像差评估：一旦波前的相位分布被重建，就可以通过分析波前的畸变来评估光学系统的像差。像差包括球差、彗差、像散、场曲等，它们都会影响成像质量。

5. 数据输出：剪切干涉仪通常会提供关于光学系统像差的定量数据，如波前图、像差值等，这些数据对于光学系统的设计和改进至关重要。

剪切干涉仪的这种机制使其成为评估和测试光学系统性能的强大工具，尤其是在高精度光学制造和测试领域。