干涉仪是一种利用光波或电磁波的干涉原理来测量物体位置、速度、形状或折射率变化的精密仪器。不同类型的干涉仪包括：
迈克尔逊干涉仪：这是最常见的干涉仪类型，由分光镜、反射镜和光源组成。它能够测量物体的位移、长度和角度变化，常用于精密测量和光学测试。
马赫-曾德尔干涉仪：这种干涉仪使用两个分光镜和两个反射镜，可以测量光波的相位差，适用于光学元件的测试和光纤通信。
法布里-珀罗干涉仪：由两个平行的反射面组成，用于测量光波的波长和频率，常用于光谱学和激光技术。
萨尼亚克干涉仪：利用声波在不同介质中的传播速度差异来测量物体的位移和形变，适用于材料科学和非破坏性检测。
X射线干涉仪：使用X射线进行干涉测量，用于研究晶体结构和材料的微观结构。
原子力显微镜（AFM）：利用探针与样品之间的相互作用力来测量样品的表面形貌，分辨率极高，适用于纳米尺度的表面分析。
光学相干断层扫描（OCT）：使用低相干光源和干涉仪来获取生物组织的横截面图像，常用于医学成像，如眼科和皮肤科。
每种干涉仪都有其独特的设计和应用领域，选择合适的干涉仪取决于测量目标和精度要求。